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簡要描述:蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡蔡司Crossbeam 550是一款結合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)和新一代聚焦離子束(FIB)的雙束掃描電子顯微鏡。該設備不僅具備出色的成像和分析性能,還擁有優(yōu)異的加工能力。
產(chǎn)品分類
詳細介紹
品牌 | ZEISS/蔡司 | 應用領域 | 食品,石油,交通,制藥,綜合 |
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品牌 | 蔡司 | 發(fā)貨地 | 北京 |
可售地 | 全國 |
蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡
蔡司Crossbeam 550是一款結合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)和新一代聚焦離子束(FIB)的雙束掃描電子顯微鏡。該設備不僅具備出色的成像和分析性能,還擁有優(yōu)異的加工能力。
蔡司Crossbeam 550通過樣品臺減速技術(Tandem decel)實現(xiàn)低電壓電子束分辨率提升高達30%,使得即使在非常低的加速電壓下也能獲得高分辨率、高對比度和高信噪比的清晰圖像。這種技術對于研究材料的表面結構和性質(zhì)具有重要意義,可以為用戶提供更準確的實驗結果。
此外,蔡司Crossbeam 550還具備出色的三維空間分辨率,能夠在二維表面成像和三維重構方面提供優(yōu)異的表現(xiàn)。通過Inlens EsB探測器,該設備可以獲取純的材料成分襯度信息,從而表征不導電樣品而不受荷電效應的影響。這使得蔡司Crossbeam 550在材料科學、生物醫(yī)學和納米技術等領域具有廣泛的應用前景。
在聚焦離子束(FIB)方面,蔡司Crossbeam 550采用了智能的刻蝕策略,使得材料移除速率可提升高達40%。同時,該設備采用了大離子束束流和高達100nA的離子束束流,可以顯著節(jié)約時間,并獲得高分辨率的FIB束斑形狀。這使得蔡司Crossbeam 550在樣品制備和加工方面具有很高的效率。
蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡
總的來說,蔡司Crossbeam 550是一款功能強大、高分辨率掃描電子顯微鏡,具有出色的成像、分析和加工能力。它適用于各種材料科學和生物醫(yī)學領域的研究,為科研工作者提供了強大的實驗工具。
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